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VL-50B318-227DC光柵低測力微測高卡尺，VL-50B318-227DC光柵式低測力微測高儀,通過使用 Litematic 特性，0.15N 和 1N 型能夠以特定測量力 進行測量，而 0.01N 型適用于測量易損工件。 *1: 0.15N 和 1N 型為出廠安裝的選件。
LH-600F/FG高精度測高儀測高卡尺,大屏的觸摸屏上顯示的導航功能為測量提供支持，8.4吋彩色液晶的觸摸大屏上顯示測量操作向導，可以進行直觀的操作。通過視覺上容易分辨的測量菜單畫面，即使是第一次操作的人員，也能輕松進行“選擇測量方法”、查看“測量結果”及“各種設定”等操作。
518-341DC三豐高性能高度計測高儀，具有數據輸出、氣動浮選和交流適配器，是一種新開發的高精度、高分辨率線性編碼器。這種儀器可以通過*的工藝來測量內外直徑(通過跟蹤測量來檢測圓頂點和工藝)。功能包括參考圖標鍵，SPC輸出和RS-232C，一個帶有背光的大LCD和一個滑動手柄/滾輪。去/±NG判斷執行通過設置上、下公差。如果判斷結果超出了公差，則顯示背光由綠色變為紅色，因此可以一目
QMH-518-230多功能一維高度計 0-350高精度數顯測高儀，示值誤差和重復性是使用標準附屬品的ø5階梯測頭，測量平面部分的高度所得出的數值。不同于高度測量，在測量 直徑、 最大(小)值、位移、圓間距時，因為掃描時測力會發生變化，可能會出現測量值大于表中數值的情況。
三豐518-360-13_LH-600_2D高精度測高儀卡尺，量可以通過圖標命令來執行，支持一鍵操作，具有豐富功能的同時追求操作的簡便性。
三豐192-663-10雙立柱結構數顯高度卡尺，可以使用雙向觸發式測頭(選件)，雙立柱結構確保實現高精度測量。*: 最大允許誤差?E MPE是根據ISO/TR 14253-6: 2012進行了修訂的JIS B 7517: 2018中的一個術語(表記)。
三豐SPC數顯高度高度尺，日本三豐數顯高度卡尺電子高度卡箍192-613-10 SPC 數據輸出卡尺
Mitutoyo三豐數顯測二維高度測量儀，二維高度測量儀示值誤差可達(1.1+0.6L/600)μm。